当前位置:易博PCB抄板工作室 >> 技术文档 >> 嵌入式听力诊断系统中的伪迹消除方法

嵌入式听力诊断系统中的伪迹消除方法

    耳声发射(OtOAcouSTic EmissiONs,OAEs)是一种产生于耳蜗,经听骨链及鼓膜传导释放入外耳道的音频能量,它是目前临床广泛采用的客观听力测试的途径之一。在外耳道中,由于耳声发射信号强度非常低,一般不超过20dB SPL(其中,SPL的含义是声压级,这一参数是国家计量部门用来校准各种听力仪器的基准值),而刺激伪迹相对要强得多,因此刺激伪迹的抑制一直是OAEs测量中很重要又很棘手的问题。本文对OAEs检测算法进行了研究,在嵌入式听力诊断系统中综合运用了目前的信号处理方法,在伪迹消除方面取得很好的效果。
    2 耳声发射信号的构成
    诱发耳声发射信号在外耳道内的构成可以用图1的模型来近似表示。
    图1 诱发耳声发射信号在外耳道内信号模型
    图1中,G1表示声信号经外耳和中耳的传递函数,其中包括外耳道、鼓膜及听骨链的响应;G2表示声能在听觉传导通路中的反射;L(t)表示刺激声经过听觉通路的传播、反射后在外耳道内的响应信号,即刺激伪迹;NL与NL(t)表示刺激声诱发的耳蜗响应,即耳声发射信号;N(t)表示外耳道内的随机噪声,R(t)表示耳道内的信号。R(t)可以表示为:
    R(t)=L(t)+NL(t)+N(t)
    由于耳声发射信号强度非常低,一般不超过20dB SPL,所以在诱发的耳声发射信号中刺激伪迹占了很大比例,在OAEs测量中,必须对刺激伪迹进行有效的抑制。
    3 伪迹消除的方案
    在听力正常的情况下,teOAEs(Transient-Evoked Otoacustic Emissions,瞬态诱发耳声发射)相对于刺激信号的延迟时间为3~5ms,持续时间为15 ms左右。TEOAEs的频率成分与刺激信号的构成有很大关系。TEOAEs的潜伏期与频率有关,在时间上高频成分出现在先,低频成分出现在后。根据英国学者Kmep的报道:5 000Hz的TEOAEs的潜伏期为4ms,而500 Hz的信号潜伏期则在12 ms左右,这种现象主要是因为不同频率的行波在基底膜上行走的距离不等。刺激声强度对TEOAEs的波形和幅度也有一定的影响,高刺激强度时可以得到OAEs更宽的频率范围。随着刺激强度的降低,OAEs的能量越来越窄地集中到几个接近自发耳声发射的频率上。pcb抄板用较高刺激强度可以得到耳蜗更全面的信息,但也相应增加了刺激伪迹(外耳道及中耳道对刺激声的直接反射)的强度与持续时间。所以,在TEOAEs检测时需要对刺激伪迹进行消除。其相关系数如图2所示。
    图2 TEOAEs相对于刺激延迟时间系数图
    3.1 时域加窗法
    从刺激开始算起约经过5 ms的时间伪迹就可以基本消失,而TEOAEs有3~5 ms的潜伏期。由于从刺激开始算起0~2.5 ms主要是伪迹成分,常常把这段时域内的信号设为0;而2.5~5.1 ms时域内为TEOAEs与伪迹共存区域,随着时间的增加,伪迹成分逐渐减少而TEOAEs的成分逐渐增多。在5.1~20 ms时段主要是TEOAEs,因为此时域窗选择为余弦上升或下降的矩形窗,余弦上升或下降时间一般为2.5 ms或2.6 ms。该方法的主要优点是能将刺激伪迹很干净地去除,且方法简单,但TEOAEs中部分短潜伏期的成分(一般为高频成分)也同时被去掉了。